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電子芯片研發(fā)100L可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗(yàn)箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
電子芯片研發(fā)100L可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家
型號(hào)與參數(shù)
型號(hào)㎜ 工作尺寸 外型尺寸
100L 450×450×500 1150×900×1650
225L 500×600×750 1200×1100×1900
408L 600×850×800 1350×1280×2200
800L 800×1000×1000 1450×1480×2300
1000L 1000×1000×1000 1650×1480×2300
溫度范圍：
0℃-100℃ -20℃-100℃ -40℃-100℃ -60℃-100℃ -70℃-100℃
低溫至常溫，也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱，低溫試驗(yàn)室
溫度波動(dòng)度：±0.5℃（空載時(shí)）
溫度偏差：≤±2℃
升降溫平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時(shí)）
時(shí)間設(shè)定范圍：0～9999 小時(shí)
電源要求：AC380V